首页> 外文会议>Modeling for Circuit Simulation, 2009. TFT/CTFT '09 >Modeling the floating-body-effect-induced drain current behavior of PD SOI NMOS device via SPICE BJT/MOS model approach
【24h】

Modeling the floating-body-effect-induced drain current behavior of PD SOI NMOS device via SPICE BJT/MOS model approach

机译:通过SPICE BJT / MOS模型方法对PD SOI NMOS器件的浮体效应引起的漏极电流行为进行建模

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摘要

• Poly-TFT and PD SOI have a lot in common •Floating-Body-Related Kink Effects are difficult to Model •SPICE Bipolar/MOS Approach is Effective
机译:•Poly-TFT和PD SOI有很多共同点•浮体相关的扭结效应很难建模•SPICE双极/ MOS方法有效

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