MOSFET; SOA; electro-thermal simulation; model validation; short-circuit; silicon carbide;
机译:无损短路操作中1200 V SiC功率MOSFET损坏的平面氧化物的研究
机译:1.2 kV 4H-SIC累积和反转通道功率MOSFET的开关和短路性能的实验研究
机译:与线性,方形和六边形拓扑相比,静态静态,动态和短路性能的卓越静态,动态和短路性能的演示与线性,方形和六边形拓扑相比
机译:1200 V 4H-SiC MOSFET短路SOA的电热模拟
机译:MOSFET器件电热性能耦合的新仿真模型。
机译:4H-SIC双沟MOSFET采用分流异质结闸用于改善开关特性
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