Charge carrier lifetime; Annealing; Temperature measurement; Ion implantation; Microwave measurement; Lattices; Physics;
机译:通过高温Ar退火控制厚n型4H-SiC外延层的载流子寿命
机译:温度和注入水平的依赖性以及热氧化对p型和n型4H-SiC外延层中载流子寿命的影响
机译:载流子寿命长的n型4H-SiC外延层中的载流子复合
机译:p型和n型4H-SiC外延层中载流子寿命的温度和注入水平依赖性
机译:基于4h-sic n型外延层和cdznte的紧凑型高分辨率辐射探测器的制造与表征。
机译:制备工艺和退火处理对硅纳米线薄膜少数载流子寿命的影响
机译:温度和注入水平的依赖性以及热氧化对p型和n型4H-SiC外延层中载流子寿命的影响