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【24h】

CMPにおけるパッド上面及び溝内の研磨液挙動のFEMシミュレーション

机译:CMP焊盘和凹槽中抛光液行为的有限元模拟

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摘要

そこで登場したのがCMP(Chemical Mechanical Polishing) である. しかし、このCMP 技術には再現性が低い, 消耗品によるコストが非常に高いなどの問題があり, 効果的に最適加工条件を探索するためには計算機によるシミュレーションが必要である. 特に最近, パッド表面に溝を設けて研磨特性の向上を図る試みがあり, どのような溝形状が有効かが問題になっている. 本研究では、ANSYSという有限要素法による解析を行うソフトを用い, 溝の中をどのように研磨液が流れているか調べる. また, 溝の角度や溝の深さの違いによって, 研磨液の流れにどのような影響を及ぼすかも調べる.
机译:这就是为什么它出现,CMP(化学机械抛光)。然而,该CMP技术具有低再现性的问题,耗材的成本非常高,有效地探索最佳处理条件,需要计算机模拟。特别是,近来,试图在垫表面上提供凹槽以改善抛光特性,并且任何凹槽形状都是有效的。在本研究中,使用该软件的ANSYS通过有限元方法进行分析,并检查抛光液是如何分析流动。另外,由于凹槽或凹槽深度的角度之间的差异对抛光液的流动的影响。它还检查。

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