机译:电子自旋共振谱研究4H-SiC(0001)/ SiO_2界面的界面碳缺陷
机译:氮化Si-脸,A型和M面4H-SiC / SiO_2接口的界面缺陷电磁共振研究
机译:SiC n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的SiC / SiO_2界面上由热载流子应力产生的缺陷的电检测磁共振研究
机译:EPR研究的SiO_2 / SI接口处的电气缺陷
机译:使用电流传输和瞬态电容测量来表征Nb / Si界面上的电活性缺陷
机译:通过全内反射荧光研究吸附的细胞色素c的方向与界面电势的关系。
机译:4H-siC / siO2界面缺陷的微观结构和电学活性:氧化多孔siC的EpR研究
机译:氮掺杂重叠siC中点缺陷和跳跃运动的EpR和电学研究