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GaN基板と電子デバイス用GaNエピウェハの最新状況

机译:电子设备用GaN衬底和GaN外延片的最新状态

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摘要

VAS法によるGaN基板はLD,LEDなど光デバイス用に実用化している。Geドープによる低抵抗化、タイリング法による大口径化、など高品質化·量産技術向上がすすhでいる。電子デバイス用では高周波用途を中心に実用化がすすhでいる。エピタキシャル成長においては、GaAs系にくらベ、成長条件の許容幅が狭く、高精度の制御が必要である。また、結晶の点欠陥を知り、制御することはエピデザインの一部ともいえる。最近、高品質なGaN基板を使用することによるデバイスの高性能化が多く報告されている。近い将来の実用化が期待される。 GaN; 基板; MOCVD; エピタキシャル成長; 電子デバイス; デバイス特性
机译:基于VAS方法的GaN衬底已经被实际用于诸如LD和LED的光学器件。更高的质量和批量生产技术正在得到改善,例如通过掺Ge降低电阻并通过平铺法增大直径。对于电子设备,它主要在高频应用中投入实际使用。在外延生长中,生长条件的允许范围比GaAs型窄,并且需要高精度的控制。同样,知道和控制晶体中的点缺陷可以说是Epidesign的一部分。近来,关于通过使用高质量的GaN衬底来改善器件性能的许多报道。预计将在不久的将来投入实际使用。 GaN;衬底; MOCVD;外延生长;电子器件;器件特性

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