机译:TSOP和各种CSP的无铅焊点的板级可靠性
机译:具有合金42引线框架的薄型小外形封装(TSOP)的附着可靠性评估和失效分析
机译:BGA,CSP,QFP和TSOP的无铅设计的板级可靠性
机译:使用紧凑型组件,包装和板级研究薄的小型包装(TSOP)
机译:溅射法制备CZTS太阳能电池循环弯曲过程中测量ITO薄膜电阻变化的实验技术使用板级跌落试验研究晶圆级芯片规模封装的可靠性。
机译:在长期老化和循环下的板级热测试中ENIG和ENEPIG表面处理的包装可靠性影响
机译:抗挠度粘合剂对TSOP(薄小轮廓包装)热变形改善的数值分析
机译:高密度3D TsOp堆栈封装NEpp FY11总结报告。