机译:底部填充和底部填充分层对倒装芯片焊点中的热应力的影响
机译:使用超声波能量与非导电膜的细间距倒装芯片(COG)键合的可靠性
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机译:非导电光引发胶倒装芯片底部填充-一种新方法
机译:用于倒装芯片的纳米复合材料底部填充材料的研究。
机译:晶圆级底部填充对热循环测试过程中超薄芯片堆叠式3D-IC组件微凸点可靠性的影响
机译:使用试验元素组芯片用压阻传感器使用倒装芯片粘接工艺引起的芯片底部填埋和非导电膜对芯片残留应力的评价
机译:倒装芯片组装和底部填充应力;用aTC4.1装配测试芯片测量并用有限元法分析