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机译:使用超声波能量与非导电膜的细间距倒装芯片(COG)键合的可靠性
Chip on glass (COG); Copper bump; Die-shear-test; Flip-chip; Non-conductive film; Reliability test; Ultrasonic bonding;
机译:超声波能量与非导电膜的细间距倒装芯片(COG)键合的可靠性
机译:使用具有非导电性糊剂的热超声倒装芯片键合工艺来可靠地组装芯片和柔性基板
机译:非导电膜对超声能焊接多芯片封装可靠性的影响
机译:使用树脂封装片的新型倒装芯片键合技术NSD(非导电膜柱形凸点直接互连)方法―通过FEM检查材料物理性能和接头可靠性―
机译:经过超声焊接和热循环的封装内部楔形丝焊的特性和可靠性分析。
机译:锡膏合金的可靠性研究以改善表面安装细间距元件的焊点
机译:验证由粘合膜组成的细距倒装芯片关节可靠性的设计因子