Through-silicon vias; Strain; Stress; Plastics; Periodic structures; Thermal stresses; Creep;
机译:铜填充硅通孔(TSV)热循环过程中的界面效应
机译:铜填充硅通孔(TSV)热循环过程中的界面效应
机译:电镀Cu填充硅通孔的微观结构演化与热循环载荷的电镀
机译:3D集成中含铜TSV的铜突起对微凸点热疲劳行为影响的三维模拟
机译:三维(3D)集成中的直通孔(TSV)的电气评估和建模。
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机译:残余应力和孔质量对飞机结构节点疲劳性能的评估。第3卷:铆接过程和疲劳寿命的有限元模拟