机译:在SOI CMOS工艺中快速电测量背氧化和硅膜厚度
机译:通过准确的膜厚公式和精确的膜厚测量值确定润滑剂的压力-粘度系数。第2部分:高L值
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机译:用C-V测量表征SOI膜厚度,氧化物厚度和电荷
机译:动态测量UHMWPE触头的润滑膜厚度,以更换全部接头。
机译:使用Scheimpflug系统测量兔子的中央角膜厚度和角膜前泪膜厚度
机译:在聚(乙烯基甲基醚)/聚苯乙烯混合物的薄膜上的能量依赖性XPS测量依赖于薄膜厚度曲线上纳米分辨率,以了解纳米叶片的行为
机译:慢速轻载弹性流体动力接触薄膜厚度效应分析。第三部分。润滑油膜厚度的实验测量。