Materials Characterization Laboratory for Electron and X-ray Instrumentation Calit2 University of California Irvine CA 92697-2800;
机译:优化制备有机薄膜的横截面TEM样品
机译:沉积在金属基底上的薄膜截面TEM样品的改进制备方法
机译:用于原位TEM应变实验的H型钢横截面样品的制备:基于FIB的方法应用于氮化的Ti-6A1-4V合金
机译:柔性磁带上倾斜沉积的磁性薄膜截面TEM样品的制备电子透明度超越6微米!
机译:TEM样品制备过程中硅中聚焦离子束损伤的计算和实验量化。
机译:等离子体纳米粒子的多重TEM样品制备与分析
机译:柔性胶带上倾斜沉积磁性薄膜横截面积标本的制备;电子透明度超过6微米!
机译:自支撑金属多层膜的横截面TEm样品制备。