Xiangtan University Department of Physics and Optoelectronics Xiangtan China 411105;
Hun;
electrostatic discharge; failure analysis; impact ionisation; semiconductor device testing; thyristors;
机译:自衬底触发技术可增强多指ESD保护器件的导通均匀性
机译:自衬底触发技术可增强多指ESD保护器件的导通均匀性
机译:低压SOI多指gg-NMOS和NPN ESD保护器件中电流均匀性的实验和数值分析
机译:ESD应力下多指DDSCR装置的开启均匀性分析
机译:全芯片ESD CAD工具和可扩展的ESD设备建模方法
机译:由于有机发光器件中的分子取向和极化导致的副转动激子淬火
机译:自基板触发技术,增强多指ESD保护装置的开启均匀性