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【24h】

IR Studies on VO_n, C_iO_i, and C_iC_s Defects in Ge-doped Cz-Si

机译:掺Ge的Cz-Si中VO_n,C_iO_i和C_iC_s缺陷的红外研究

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摘要

This paper reports experimental results on the production and annealing of oxygen-vacancy related (VO_n, l
机译:本文报告了在掺锗的切克拉斯基生长的硅(Cz-Si)中与氧空位有关的(VO_n,l

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