Honeywell SSEC, Plymouth, Minnesota, 55441, U. S. A.;
机译:用UNIBOND制造的PDSOI 4 M SRAM中的单事件效果
机译:ELTRAN和UNIBOND晶圆上制造的FD-SOI MOSFET中2 MeV电子辐照引起的降解的分析
机译:Rnon Unibond-SOI材料制成的压力传感器的总剂量辐射效应
机译:UNIBORD基板中的UNIBOND基板中SOI CMOS / 4M SRAM的辐射响应
机译:Paclobutrazol在含有木材和松树的含有木材和松树皮的紫外线滴眼的疗效,以及泥炭和基于汇集基底的植物麻水生长
机译:土壤对复杂有机基质的独特呼吸反应主要由土壤结构及其微生物群落控制
机译:完全耗尽的UNIBOND SOI MOSFET受到γ辐射的电荷俘获过程的表征
机译:sOI / CmOs(si-On-Insulator / CmOs)电路在siO2涂层si衬底上的区域熔化 - 再结晶si薄膜中制造