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机译:用UNIBOND制造的PDSOI 4 M SRAM中的单事件效果
Solid State Electron. Center, Honeywell Inc., Plymouth, MN, USA;
SRAM chips; radiation hardening (electronics); silicon-on-insulator; proton effects; ion beam effects; single event effects; PDSOI 4 M SRAM; UNIBOND; proton single event upsets; heavy ion single event upsets; hardened delay element; each memory cell; CMOS technology;
机译:边缘效应对SOI SRAM的单事件翻转敏感性的影响
机译:SRAM中14 MeV中子诱发单事件效应的研究
机译:3 MeV,14 MeV和裂变中子对功率MOSFET和SRAM的单事件影响
机译:在UNIBOND SUBSTRATS中的SOI CMOS / 4M SRAM的辐射响应
机译:通过放置和路由改善SRAM FPGA上三重模块化冗余的单个事件效应
机译:迁移防止策略来制备单原子铁植入的氮掺杂多孔碳以有效地减少氧气
机译:SRAM中引发的单个事件
机译:室温下单粒子对空间辐射强化64K sRams的影响