Electrical Engineering, The Pennsylvania State University, University Park, 16802, USA;
机译:高温下具有隧穿栅介质的金属氧化物半导体场效应晶体管中界面陷阱密度提取的改进直流电流电压方法
机译:顶栅石墨烯场效应晶体管的界面态密度提取
机译:包含接口陷阱的围栅金属氧化物半导体场效应晶体管的隐式连续电流电压模型
机译:使用高频电流电压特性提取顶部门控石墨烯晶体管近界面捕集密度
机译:从界面陷阱处复合电流的线形中提取亚微米MOS晶体管中的沟道杂质浓度分布
机译:金属氧化物-石墨烯场效应晶体管:界面陷阱密度提取模型
机译:用高频电流电压特性提取顶栅石墨烯晶体管近界面陷阱密度。