CEGELY, INSA de Lyon, Bat. Leonard de Vinci, FR-69621 Villeurbane, France;
6H-SiC; bipolar diodes; breakdown voltage; JTE; OBIC;
机译:结终端扩展保护的1.3 kV 6H-SiC p〜+ n平面双极二极管的OBIC分析
机译:演示具有三区结扩展的4H-SiC中的13kV类结势垒肖特基二极管
机译:具有阶梯式三联结终端延伸的垂直GaN P-N二极管的设计与制造
机译:高压6H-SiC平面双极二极管的铝和硼掺杂结终端扩展的比较
机译:使用柔性微型温度传感器原位测量发光二极管的结温
机译:垂直GaN二极管中的反掺杂多态连接终端延伸结构
机译:接触金属化和封装技术开发用于siC双极结晶体管,piN二极管和肖特基二极管,专为350°C的长期工作而设计