Samsung Semiconductor China RD Co. Ltd. Room B-404, International Science Park, Suzhou Industrial Park, Suzhou, China 215021;
机译:铜或化学镀Au / Ni(P)焊盘上Sn-Zn焊点的界面反应和冲击可靠性
机译:电解Ni BGA衬底上无铅Sn-Ag-Cu焊料的IMC形态,界面反应和接头可靠性
机译:回流焊接过程中Sn-Ag-Cu和Sn-Ag焊料在Cu焊盘上的界面反应的比较研究
机译:Sn-Ag-Cu / OSP-Cu垫SMT焊点的界面反应和接头可靠性
机译:倒装芯片技术中焊点的可靠性:润湿,界面反应,机械剪切测试和电迁移等基础研究的方法。
机译:界面金属间化合物层纳米力学响应与焊点冲击可靠性的关系
机译:界面反应层厚度对Sn-Ag-Cu焊接凸块接头裂缝形态和抗冲击性的影响
机译:smT焊点可靠性/工艺环境测试结果LCC的相关性