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Method for etching silicon wafers using a potassium hydroxide and water etching solution

机译:使用氢氧化钾和水蚀刻溶液蚀刻硅晶片的方法

摘要

A method for etching silicon wafers having a (100) or (110) crystallographic orientation. The method includes using an etching solution consisting essentially of potassium hydroxide (KOH) and water. This allows for an optimum combination of etch rate and etch quality.
机译:一种用于蚀刻具有(100)或(110)晶体学取向的硅晶片的方法。该方法包括使用基本上由氢氧化钾(KOH)和水组成的蚀刻溶液。这允许蚀刻速率和蚀刻质量的最佳组合。

著录项

  • 公开/公告号US4758368A

    专利类型

  • 公开/公告日1988-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOTOROLA INC.;

    申请/专利号US19870110626

  • 发明设计人 PATRICK THOMPSON;

    申请日1987-10-19

  • 分类号C09K13/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 06:48:50

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