首页> 外国专利> Method of forming a capacitor on semiconductor devices

Method of forming a capacitor on semiconductor devices

机译:在半导体器件上形成电容器的方法

摘要

PURPOSE: A method for forming a semiconductor capacitor is provided to be capable of simplifying processes by forming an analog capacitor of ONO(Oxide/Nitride/Oxide) structure using a single poly. CONSTITUTION: A gate oxide layer(102) is formed on a semiconductor substrate(100), and a poly layer is deposited on the gate oxide layer. After forming a poly oxide layer on the poly layer, a capacitor pattern is formed by selectively etching the poly oxide layer and poly patterns(104a,104b) are formed by wet-etching. The poly oxide layer is removed by etch-back. A thermal oxide layer(110) is formed on the poly pattern(104a,104b). A nitride layer(112) is formed on the thermal oxide layer. By plugging the nitride layer(112), a capacitor of ONO structure is formed.
机译:目的:提供一种形成半导体电容器的方法,该方法能够通过使用单个多晶硅形成ONO(氧化物/氮化物/氧化物)结构的模拟电容器来简化工艺。构成:在半导体衬底(100)上形成栅氧化层(102),并在栅氧化层上沉积多晶硅层。在该多晶硅层上形成多晶硅氧化物层之后,通过选择性地蚀刻该多晶硅氧化物层来形成电容器图案,并且通过湿蚀刻来形成多晶硅图案(104a,104b)。通过回蚀去除多氧化物层。在多晶硅图案(104a,104b)上形成热氧化层(110)。在热氧化物层上形成氮化物层(112)。通过堵塞氮化物层(112),形成ONO结构的电容器。

著录项

  • 公开/公告号KR100425272B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20020024238

  • 发明设计人 박성희;

    申请日2002-05-02

  • 分类号H01L27/04;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 22:47:13

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号