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ESD PROTECTION CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR CONTROLLED RECTIFIER STRUCTURE CAPABLE OF OPERATING AT LOW TRIGGER VOLTAGE

机译:可在低触发电压下运行的半导体可控整流器结构的ESD保护电路

摘要

An ESD protection circuit having silicon-controlled rectifier structure, includes a PNP transistor and an NPN transistor. A switch circuit is connected between a ground voltage terminal and a well region that is a base of the PNP transistor. The switch circuit is formed of plural diode-coupled MOS transistors, so that a trigger voltage of the SCR is determined by threshold voltages of the MOS transistors.
机译:具有硅可控整流器结构的ESD保护电路,包括PNP晶体管和NPN晶体管。开关电路连接在接地电压端子和作为PNP晶体管基极的阱区域之间。开关电路由多个二极管耦合的MOS晶体管形成,从而SCR的触发电压由MOS晶体管的阈值电压确定。

著录项

  • 公开/公告号KR100441116B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20010044052

  • 发明设计人 송기환;

    申请日2001-07-21

  • 分类号H01L27/04;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 22:46:50

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