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Semiconductor device with an insulating layer including deuterium and a manufacturing method thereof

机译:具有包括氘的绝缘层的半导体器件及其制造方法

摘要

A semiconductor device with an insulating layer including deuterium comprising: a semiconductor substrate; a gate insulating film including deuterium therein and formed on the semiconductor substrate; diffusion layers formed in the semiconductor substrate and located apart from each other to be adjacent to the gate insulating film; a gate electrode formed on the gate insulating film; a first insulating film including deuterium therein and formed on a side surface of the gate electrode; and a protective layer formed so as to cover the first insulating film.
机译:一种具有包括氘的绝缘层的半导体器件,其包括:半导体衬底;以及设置在所述半导体衬底上的绝缘层。在其中包括氘并形成在半导体衬底上的栅极绝缘膜;扩散层形成在半导体衬底中并且彼此分开以与栅极绝缘膜相邻;在栅绝缘膜上形成的栅电极;第一绝缘膜在其中包括氘并且形成在栅电极的侧表面上;形成保护层以覆盖第一绝缘膜。

著录项

  • 公开/公告号US2005062113A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHINICHI WATANABE;

    申请/专利号US20040802810

  • 发明设计人 SHINICHI WATANABE;

    申请日2004-03-18

  • 分类号H01L29/76;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:24:07

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