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INTERFERENCE EXPOSING DEVICE, AN INTERFERENCE EXPOSING METHOD, AND A METHOD FOR MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE CAPABLE OF EASILY FORMING VARIOUS PATTERNS WITH LOW COSTS

机译:干扰暴露设备,干扰暴露方法以及制造能够容易地形成低成本各种图案的半导体器件的方法

摘要

PURPOSE: An interference exposing device, an interference exposing method, and a method for manufacturing a semiconductor device are provided to form a pattern variation of high degree of freedom with a sufficient focal depth.;CONSTITUTION: An optical path changing unit changes the direction and length of an optical path of a multi-luminous beam(1b) and includes a diffraction grating, a micromirror, and a prism. A pattern control unit changes the intensity or phase of the multi-luminous beam. The pattern control unit is composed of a plurality of shutters(30). A prism is installed between the pattern control unit and a wafer(WA).;COPYRIGHT KIPO 2013
机译:目的:提供一种干涉曝光装置,一种干涉曝光方法和一种用于制造半导体器件的方法,以形成具有足够的焦深的高自由度的图案变化。构成:光路改变单元改变方向并改变光路。多光束(1b)的光路的长度,并且包括衍射光栅,微镜和棱镜。模式控制单元改变多光光束的强度或相位。图案控制单元由多个快门(30)组成。在图案控制单元和晶圆(WA)之间安装了一个棱镜。; COPYRIGHT KIPO 2013

著录项

  • 公开/公告号KR20130009594A

    专利类型

  • 公开/公告日2013-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA;

    申请/专利号KR20120027295

  • 发明设计人 TANAKA SATOSHI;KODERA KATSUYOSHI;

    申请日2012-03-16

  • 分类号H01L21/027;G03F7/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:27:49

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