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SOURCE/DRAIN EXTENSION CONTROL FOR ADVANCED TRANSISTORS

机译:高级晶体管的源/漏扩展控制

摘要

A planar transistor with improved performance has a source and a drain on a semiconductor substrate that includes a substantially undoped channel extending between the source and the drain. A gate is positioned over the substantially undoped channel on the substrate. Implanted source/drain extensions contact the source and the drain, with the implanted source/drain extensions having a dopant concentration of less than about 1×1019 atoms/cm3, or alternatively, less than one-quarter the dopant concentration of the source and the drain.
机译:具有改进性能的平面晶体管在半导体衬底上具有源极和漏极,该半导体衬底包括在源极和漏极之间延伸的基本上未掺杂的沟道。栅极位于衬底上的基本上未掺杂的沟道上方。注入的源极/漏极延伸部分与源极和漏极接触,注入的源极/漏极延伸部分的掺杂浓度小于1×10 19 atoms / cm 3 ,或者,小于源极和漏极的掺杂剂浓度的四分之一。

著录项

  • 公开/公告号US2014167157A1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SUVOLTA INC.;

    申请/专利号US201414188493

  • 申请日2014-02-24

  • 分类号H01L29/78;H01L27/088;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:09:33

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