机译:离子注入源极和漏极延伸引起的绝缘体上硅三栅鳍型场效应晶体管阈值电压波动起因的三维研究
Meiji Univ, Sch Sci & Technol, Dept Comp Sci, Kawasaki, Kanagawa 2148571, Japan;
机译:由离子注入引起的硅 - 绝缘体三栅鳍片型场效应晶体管阈值电压波动起源的三维探索
机译:离子注入对绝缘体上硅三栅鳍型场效应晶体管的源极和漏极延伸造成的阈值电压波动的起因,使用了三维工艺和器件仿真
机译:三维瓶颈屏障高度最小对硅 - 衬里三栅鳍片型场效应晶体管源极和排水延伸的离子植入阈值电压波动
机译:通过不均匀的源极/漏极掺杂和增加的延伸长度来减少碳纳米管场效应晶体管中的双极性
机译:金属氧化物半导体场效应晶体管中随机掺杂引起的阈值电压波动分析
机译:源/漏残余注入晶格损伤阱对碳化硅金属半导体场效应晶体管漏极IV特性的影响
机译:大漏极电压下结型场效应晶体管的场分布。