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Embedded Silver Nanomaterials into Die Backside to Enhance Package Performance and Reliability

机译:将银纳米材料嵌入到芯片背面以提高封装性能和可靠性

摘要

A method and apparatus for enhancing the electrical and thermal performance of semiconductor packages effectively, especially for laminated packages, where sinterable materials cannot be used. The concept of this invention is to embed silver or silver-coated nanomaterials, which can be nanoparticles, nanoflakes, nanowires etc., into die backside to improve the interface between die and die attach materials, thus enhancing electrical and thermal performance through sintering and enhancing reliability by improving adhesion.
机译:一种有效地提高半导体封装的电和热性能的方法和装置,特别是对于不能使用可烧结材料的叠层封装。本发明的概念是将可以是纳米颗粒,纳米薄片,纳米线等的银或镀银的纳米材料嵌入到芯片的背面,以改善芯片和芯片附着材料之间的界面,从而通过烧结和增强来增强电学和热学性能。通过提高附着力来提高可靠性。

著录项

  • 公开/公告号US2015069600A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US201314024840

  • 发明设计人 RONGWEI ZHANG;

    申请日2013-09-12

  • 分类号H01L23/48;H01L21/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:26:38

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