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METHOD TO ENHANCE RELIABILITY OF THROUGH MOLD VIA PACKAGE ON PACKAGE ASSEMBLIES

机译:通过包装组件上的包装提高铸模可靠性的方法

摘要

A Through Mold Via (TMV) Integrated Circuit (IC) package is provided as a bottom IC package (32) for a TMV Package on Package (POP) configuration. The TMV IC package has an overmold (50) top portion having a substantially flat surface (54) and spacer or standoff features (56, 58, 76, 78) extending upward from the flat surface. The spacer or standoff features are configured to abut the bottom surface of the top POP package (60) during softer reflow in order to maintain a gap (62) of predetermined height between the top (60) and bottom (32) IC packages.
机译:提供了模制通孔(TMV)集成电路(IC)封装,作为用于TMV封装(POP)配置的底部IC封装(32)。 TMV IC封装具有具有基本上平坦的表面(54)的包覆模制(50)顶部和从平坦表面向上延伸的间隔件或支座特征(56、58、76、78)。间隔物或支座特征构造成在较软的回流期间邻接顶部POP封装件(60)的底表面,以便在顶部IC封装件(60)和底部(32)封装件之间保持预定高度的间隙(62)。

著录项

  • 公开/公告号WO2015021160A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOTOROLA MOBILITY LLC;

    申请/专利号WO2014US49949

  • 发明设计人 GOUDARZI VAHID;

    申请日2014-08-06

  • 分类号H01L23/31;H01L25/10;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 15:08:19

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