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Mapping of grain boundaries using differential interference contrast

机译:使用微分干涉对比绘制晶界

摘要

Techniques for visualizing grain structures of a sample, e.g. using a microscope. A differential interference contrast is used, such as DIC according to Normarski or CDIC with circularly polarized light. Multiple images are acquired with different configurations of the differential interference contrast. From this a result picture is obtained which makes the grain structures visible.
机译:可视化样品晶粒结构的技术,例如使用显微镜。使用差分干涉对比,例如符合Normarski的DIC或具有圆偏振光的CDIC。使用差分干涉对比的不同配置获取多幅图像。由此得到的结果图使晶粒结构可见。

著录项

  • 公开/公告号DE102018127083A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH;

    申请/专利号DE102018127083A1

  • 发明设计人 MATTHIAS VAUPEL;

    申请日2018-10-30

  • 分类号G01B9/02;G01B9/04;G01N21/49;G01N15/02;G02B21;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:01:48

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