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一种改善高阻SOI衬底上高介电常数栅介质性能的方法

摘要

本发明公开了一种改善高阻SOI衬底上高介电常数栅介质性能的方法,该方法包括以下步骤:步骤一,将高阻SOI衬底进行预处理,然后装入薄膜沉积腔内;步骤二,在高阻SOI衬底的上表面原位生长厚度不大于1nm的Al

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/283 授权公告日:20120627 终止日期:20180720 申请日:20100720

    专利权的终止

  • 2012-06-27

    授权

    授权

  • 2012-06-27

    授权

    授权

  • 2011-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/283 申请日:20100720

    实质审查的生效

  • 2011-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/283 申请日:20100720

    实质审查的生效

  • 2010-12-22

    公开

    公开

  • 2010-12-22

    公开

    公开

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