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A method for the production of a gate - dielectric with variable dielectric constant

机译:一种制备介电常数可变的栅介质的方法。

摘要

A method for forming a gate dielectric having regions with different dielectric constants. A low-K dielectric layer is formed over a semiconductor structure. A dummy dielectric layer is formed over the low-K dielectric layer. The dummy dielectric layer and low-K dielectric layer are patterned to form an opening. The dummy dielectric layer is isontropically etched selectively to the low-K dielectric layer to form a stepped gate opening. A high-K dielectric layer is formed over the dummy dielectric and in the stepped gate opening. A gate electrode is formed on the high-K dielectric layer.
机译:一种形成具有不同介电常数区域的栅极电介质的方法。在半导体结构上方形成低K电介质层。在低K介电层上方形成伪介电层。伪介电层和低K介电层被图案化以形成开口。将伪介电层选择性地等离子蚀刻至低K介电层,以形成阶梯状的栅极开口。高K电介质层形成在伪电介质上方和阶梯状栅极开口中。在高K介电层上形成栅电极。

著录项

  • 公开/公告号DE60211396T2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-05-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE2002611396T

  • 发明设计人

    申请日2002-01-25

  • 分类号H01L21/28;H01L21/336;H01L29/51;H01L29/423;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 20:27:58

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