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一种具有高介电常数结晶相的锆基栅介质材料以及其制备方法

摘要

本发明公开了一种具有高介电常数结晶相的锆基栅介质材料以及其制备方法。该锆基栅介质材料通过稀土化合物掺杂氧化锆,经退火结晶化处理而得。其制备方法为:(1)采用磁控溅射、激光溅射技术制备稀土化合物与氧化锆混合均匀的锆基薄膜,或者采用ALD技术制备稀土化合物与氧化锆的叠层结构薄膜;(2)对所形成的锆基薄膜或叠层结构薄膜进行退火结晶化处理,退火温度范围在300~1100℃,退火气氛为Ar、H2、N2、NO2、NO、NH3、O2、O3中的一种或者几种。本发明采用稀土化合物掺杂氧化锆,可以优化锆基栅介质的能带结构,同时有效控制锆基栅介质氧空位含量,减小漏电流,提高锆基栅介质材料的综合性能。

著录项

  • 公开/公告号CN108172613A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京有色金属研究总院;

    申请/专利号CN201611120940.X

  • 申请日2016-12-07

  • 分类号H01L29/51(20060101);H01L21/28(20060101);

  • 代理机构11100 北京北新智诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘秀青;熊国裕

  • 地址 100088 北京市西城区新街口外大街2号

  • 入库时间 2023-06-19 05:44:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-19

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L29/51 登记生效日:20190628 变更前: 变更后: 申请日:20161207

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/51 申请日:20161207

    实质审查的生效

  • 2018-06-15

    公开

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