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用于光电单片集成的硅基光电探测器及其制备方法

摘要

用于光电单片集成的硅基光电探测器及其制备方法,涉及一种硅基光电单片集成电路。提供一种与商业的BCD标准工艺完全兼容的用于光电单片集成的硅基光电探测器及其制备方法。硅基光电探测器设有P型硅衬底、BN+、BP+、N-EPI外延层、N阱、P阱、P+、N+、Al层、场氧层、SiO2绝缘介质层和Si3N4表面钝化层,P型硅衬底、BN+、BP+、N-EPI外延层、N阱、P阱、P+、N+设于同一硅片上,场氧层是在硅片表面生成的氧化硅层,金属铝层沉积在硅片表面,按制备顺序从下至上共3层SiO2绝缘介质层通过沉积工艺附着在硅衬底上、Si3N4表面钝化层通过沉积工艺附着在SiO2绝缘介质层上。

著录项

  • 公开/公告号CN101719504B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门大学;

    申请/专利号CN200910112909.5

  • 发明设计人 颜黄苹;程翔;卞剑涛;陈朝;芦晶;

    申请日2009-12-03

  • 分类号H01L27/144(20060101);H01L31/08(20060101);H01L21/822(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构35200 厦门南强之路专利事务所;

  • 代理人马应森

  • 地址 361005 福建省厦门市思明南路422号

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-12

    授权

    授权

  • 2010-07-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/144 申请日:20091203

    实质审查的生效

  • 2010-06-02

    公开

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