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一种硅基图形衬底上生长外延层的方法

摘要

一种硅基图形衬底上生长外延层的方法,包括如下步骤:提供硅衬底;在硅衬底表面生长第一外延层;在第一外延层远离硅衬底的表面生长第一介质层;将第一介质层的一部分腐蚀除去;刻蚀第一外延层,至露出硅衬底后停止;在硅衬底上形成凹陷结构;在硅衬底的凹陷结构的底部和侧面制备第二介质层;腐蚀第一介质层;采用外延方法生长连续的第二外延层。本发明的优点在于:可以解决硅衬底上生长外延层容易龟裂的问题;可以降低外延生长中的位错密度和缺陷密度,提高晶体质量;可以解决硅容易向外扩散的问题;工艺可重复性好。

著录项

  • 公开/公告号CN101378017B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州纳维科技有限公司;

    申请/专利号CN200810200193.X

  • 发明设计人 朱建军;徐科;王建峰;

    申请日2008-09-19

  • 分类号

  • 代理机构上海翼胜专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人翟羽

  • 地址 215125 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-12-01

    授权

    授权

  • 2009-10-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-03-04

    公开

    公开

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