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光掩模的制造方法以及光学接近度校正的修补方法

摘要

本发明提供一种光掩模的制造方法。首先,提供光掩模的图像数据,再对此图像数据进行光学接近度校正,然后对光学接近度校正后的图像数据进行工艺规则检查。当图像数据中有至少一个未通过工艺规则检查的失败图形时,仅对此失败图形进行一修补程序,以使其能通过工艺规则检查。之后,依照经过前述光学接近度校正及修补程序的图像数据来形成光掩模的图案。

著录项

  • 公开/公告号CN101191996B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联华电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200610163192.3

  • 发明设计人 林陵杰;李潜福;黄义雄;

    申请日2006-11-29

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张波

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-05-19

    授权

    授权

  • 2008-07-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-04

    公开

    公开

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