公开/公告号CN101191996B
专利类型发明专利
公开/公告日2010-05-19
原文格式PDF
申请/专利权人 联华电子股份有限公司;
申请/专利号CN200610163192.3
申请日2006-11-29
分类号
代理机构北京市柳沈律师事务所;
代理人张波
地址 中国台湾新竹科学工业园区
入库时间 2022-08-23 09:04:31
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-05-19
授权
授权
2008-07-30
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-06-04
公开
公开
机译: 曝光掩模,光学接近度校正装置,光学接近度校正方法,半导体装置的制造方法以及光学接近度校正程序
机译: 曝光掩模,光学接近度校正装置,光学接近度校正方法,半导体装置的制造方法以及光学接近度校正程序
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