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Ⅲ族元素氮化物结晶半导体器件

摘要

本发明提供一种防止碱金属扩散的半导体器件。在III族元素氮化物结晶衬底上层叠有III族元素氮化物结晶层的III族元素氮化物半导体器件中,所述衬底是在含有碱金属及碱土类金属之中的至少一种的熔融液中,通过使含有氮的气体中的所述氮和III族元素反应并结晶化而制成,在所述衬底上形成有薄膜层,其中,在所述衬底中含有的杂质在所述薄膜层中的扩散系数比该杂质在所述衬底中的扩散系数更小。

著录项

  • 公开/公告号CN1610138B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200410086095.X

  • 申请日2004-10-20

  • 分类号H01L33/00(20060101);H01L21/20(20060101);H01S5/00(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人陈建全

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 33/00 授权公告日:20100512 终止日期:20131020 申请日:20041020

    专利权的终止

  • 2010-05-12

    授权

    授权

  • 2006-10-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-04-27

    公开

    公开

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