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漂洗和干燥半导体晶片的设备和方法

摘要

用于漂洗和干燥半导体晶片的设备包括漂洗浴槽、干燥浴槽和干燥室。漂洗浴槽和干燥浴槽通过浴槽隧道单元连接,防止在被从漂洗浴槽传送到干燥浴槽的同时半导体晶片暴露于空气。因此,防止在半导体晶片上形成水印。用于漂洗和干燥半导体晶片的方法包括在漂洗浴槽中漂洗晶片,通过隧道单元将晶片传送到干燥浴槽,防止半导体晶片暴露于空气,以及在干燥浴槽中处理晶片之后,将晶片传送到干燥室。

著录项

  • 公开/公告号CN100492596C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200510064903.7

  • 发明设计人 金洪奭;

    申请日2005-04-08

  • 分类号

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人林宇清

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/302 授权公告日:20090527 终止日期:20150408 申请日:20050408

    专利权的终止

  • 2009-05-27

    授权

    授权

  • 2007-05-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-10-19

    公开

    公开

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