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一种基于半导体集成电路工艺的混合成像探测器芯片

摘要

本发明提供一种基于半导体集成电路工艺的混合成像探测器芯片,可以是一种单芯片集成的混合成像探测器芯片,包括衬底、支撑结构和微桥结构,其中,衬底内设置有相连接的N型区和P型区,N型区包括相连接且分别位于衬底内相对两侧的第一N型区和第二N型区,P型区包括相连接的第一P型区和第二P型区,第一P型区的第一部分位于第一N型区朝向微桥结构一侧,第二部分与第一N型区同层设置。第二P型区的第一部分位于第二N型区背离微桥结构一侧,第二部分位与第二N型区同层设置。这样可以分别从衬底的两侧注入离子以分别形成N型区和P型区,降低了N型区和P型区注入离子的工艺难度,提高了混合成像探测器芯片的成品良率,降低经济成本。

著录项

  • 公开/公告号CN113551783B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安中科立德红外科技有限公司;

    申请/专利号CN202111111053.7

  • 申请日2021-09-23

  • 分类号G01J5/20(20060101);G01J1/42(20060101);H01L31/0352(20060101);H01L31/0216(20140101);H01L31/111(20060101);H01L27/144(20060101);

  • 代理机构11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司;

  • 代理人张娜;刘芳

  • 地址 710117 陕西省西安市高新区毕原二路3000号硬科技企业社区8幢

  • 入库时间 2022-08-23 12:58:33

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