机译:一种用于产生具有氧化作用的沟槽结构的方法,一种用于制造集成半导体电路装置或芯片的方法,一种用于制造半导体元件的方法以及一种利用该方法的半导体集成电路器件,芯片,一种半导体器件的制造方法
公开/公告号DE10361697B4
专利类型
公开/公告日2011-08-11
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号DE2003161697
发明设计人
申请日2003-12-30
分类号H01L21/762;H01L21/336;H01L29/78;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 17:48:04