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短沟道沟槽功率MOSFET

摘要

本发明的一个目的是提供一种功率半导体装置,其具有低接通状态电阻,同时避免任何短沟道效应并且具有低阈值下斜率。为了达到这个目的,本发明提供一种沟槽功率半导体装置,其包括第一导电类型的补偿层(15),其中补偿层(15)与第二导电类型的沟道区直接相邻地在第一导电类型的源极层(5)与第一导电类型的衬底层(9)之间在栅极绝缘层(11)上延伸,并且其中:。在以上不等式中,Lch是沟道长度,εCR是沟道区的电容率,εGI是栅极绝缘层的电容率,tCOMP是补偿层(15)的厚度,以及tGI是栅极绝缘层(11)的厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN109314142B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日立能源瑞士股份公司;

    申请/专利号CN201780035730.7

  • 发明设计人 R.米娜米萨瓦;L.诺勒;

    申请日2017-04-04

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11602 北京市汉坤律师事务所;

  • 代理人王其文;张涛

  • 地址 瑞士巴登

  • 入库时间 2022-08-23 12:58:23

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