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一种用于掩模制造和激光直写光刻的双重直写方法

摘要

本发明公开了一种用于掩模制造和激光直写光刻的双重直写方法,根据内拐点将原始版图拆分成多个矩形后,按照第一扩展路径,将相邻的相同走向的矩形进行相反方向的扩展,将相邻的不同走向的矩形进行不同方向的扩展,完成第一次直写,然后按照第一次直写扩展规则,反向所述第一路径进行第二次直写扩展,直至所有矩形扩展完成;同时对第一次直写和第一次直写过程进行冲突判断,并对冲突区域和不合理区域进行处理和调整,对两次直写进行结果验证和规则验证,提高制得的掩模的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN111781801B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010582950.5

  • 发明设计人 马乐;韦亚一;董立松;杨尚;

    申请日2020-06-23

  • 分类号G03F7/20(20060101);G03F1/68(20120101);

  • 代理机构32411 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈婧

  • 地址 211899 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨路320号科创一号大厦B座21楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:10:33

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