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高性能晶圆级硫化铅近红外光敏薄膜及其制备方法

摘要

一种高性能晶圆级硫化铅近红外光敏薄膜及其制备方法,属于光电子器件领域。首先,对选取基底材料的表面进行清洁处理。其次,在高背景真空度下,将气化后的氧化剂引入真空蒸镀腔体,在洁净基底表面缓慢沉积PbS薄膜,获得颗粒适中、结构疏松、取向一致的微观结构。最后,在一定温度和压强条件下,载气携带碘蒸汽敏化处理S2所述PbS薄膜,得高性能晶圆级PbS光敏薄膜。本发明制备方法简单、制备成本低廉、重复性好,可实现晶圆级PbS光敏薄膜的制备,利于大规模商业化生产;制备PbS光敏薄膜光电探测率高,600K黑体室温峰值探测率>8×1010Jones;本发明制备PbS光敏薄膜表面光滑,晶圆级光敏面内相应不均匀性<5%,满足制备PbS百万像素级阵列成像系统的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN111705297B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202010532605.0

  • 发明设计人 邱继军;骆英民;边继明;

    申请日2020-06-12

  • 分类号C23C14/06(20060101);C23C14/26(20060101);C23C14/30(20060101);C23C14/35(20060101);C23C14/58(20060101);H01L31/032(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人李晓亮;潘迅

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 12:04:32

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