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一种用于MCU的微功耗低电压检测电路

摘要

本发明涉及检测电路的技术领域,公开了一种用于MCU的微功耗低电压检测电路,用于MCU上电和掉电过程中的低电压检测,包括镜像电流模块,其输入端与MCU供电电压相连,输出端与比较模块的输入端、镇流电阻的一端相连,比较模块的输入端还与镇流电阻的一端相连,输出端与负载的一端、整形模块相连,镇流电阻、负载的另一端接地,镜像电流模块用于产生随MCU供电电压的变化而变化的一对镜像电流,其分别流过比较模块和镇流电阻;比较模块用于根据镇流电阻上的电压和镜像电流模块上的电压变化,进行翻转输出;整形模块用于对比较模块的翻转输出进行整形,输出对应的高电平和低电平。本发明的电路结构紧凑,控制方便,便于普及和推广。

著录项

  • 公开/公告号CN110501548B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海芯旺微电子技术有限公司;

    申请/专利号CN201910651953.7

  • 申请日2019-07-18

  • 分类号G01R19/00(20060101);G06F1/24(20060101);G06F1/28(20060101);G06F1/3234(20190101);G06F11/30(20060101);

  • 代理机构31293 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人姜晓艳;刘朵朵

  • 地址 200120 上海市浦东新区龙东大道3000号张江集电港1幢9楼B区906B室

  • 入库时间 2022-08-23 11:19:46

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