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通过栅极自对准结改进结分布的替代体FINFET

摘要

本发明揭示通过栅极自对准结改进结分布的替代体FINFET,在位于牺牲栅极结构的相对侧上的半导体的部分上形成外延半导体层以后,将来自该外延半导体层的掺杂物扩散进入该半导体鳍片中,以形成含掺杂物半导体鳍片。移除牺牲栅极堆叠,以设置暴露该含掺杂物半导体鳍片的部分的栅极空腔。移除该含掺杂物半导体鳍片的该暴露部分,以在该栅极空腔下方设置开口。至少自该含掺杂物半导体鳍片的剩余部分的侧壁外延生长沟道,该沟道未经掺杂或者与该含掺杂物半导体鳍片的剩余部分相比经较少掺杂。因此,在该沟道区与该含掺杂物半导体鳍片的剩余部分之间形成突变结。

著录项

  • 公开/公告号CN107068756B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格罗方德半导体公司;

    申请/专利号CN201611079177.0

  • 发明设计人 V·翁塔洛斯;

    申请日2016-11-30

  • 分类号

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 英属开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2022-08-23 11:09:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    授权

    授权

  • 2017-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    公开

    公开

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