首页> 中国专利> 金属氧化物半导体层形成用组合物、以及使用了其的金属氧化物半导体层的制造方法

金属氧化物半导体层形成用组合物、以及使用了其的金属氧化物半导体层的制造方法

摘要

本发明提供一种金属氧化物半导体层形成用组合物,所述金属氧化物半导体层形成用组合物包含通式[1]表示的溶剂、和无机金属盐。(式中,R

著录项

  • 公开/公告号CN106537569B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日产化学工业株式会社;

    申请/专利号CN201580038337.4

  • 发明设计人 前田真一;

    申请日2015-07-14

  • 分类号

  • 代理机构北京市中咨律师事务所;

  • 代理人马妮楠

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:54:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    授权

    授权

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/368 申请日:20150714

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/368 申请日:20150714

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    公开

    公开

  • 2017-03-22

    公开

    公开

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