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用于填充浅沟槽隔离(STI)区的沟槽的方法

摘要

提供了一种用于制造具有高纵横比的浅沟槽隔离(STI)区的方法。提供具有沟槽的半导体衬底。形成内衬于沟槽的第一介电层。形成填充第一介电层上方的沟槽的第二介电层。在一些实施例中,在形成第二介电层之前,将离子注入至第一介电层的注入区,注入区沿着沟槽的下部区域延伸并且限制于沟槽的下部区域。在可选实施例中,在形成第二介电层之后,对第二介电层实施紫外固化工艺。在形成第二介电层的情况下,并且在一些实施例中,完成紫外固化工艺,对第二介电层实施退火工艺。也提供了用于STI区的半导体结构。本发明实施例涉及用于填充浅沟槽隔离(STI)区的沟槽的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN106158721B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201510769398.X

  • 发明设计人 张耀文;蔡嘉雄;蔡正原;

    申请日2015-11-11

  • 分类号

  • 代理机构北京德恒律治知识产权代理有限公司;

  • 代理人章社杲

  • 地址 中国台湾新竹

  • 入库时间 2022-08-23 10:46:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-27

    授权

    授权

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/762 申请日:20151111

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/762 申请日:20151111

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    公开

    公开

  • 2016-11-23

    公开

    公开

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