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基于AlGaN/GaN HEMT器件的高频高压动态导通阻抗提取电路及提取方法

摘要

本发明公开了一种基于AlGaN/GaN HEMT器件的高频高压动态导通阻抗提取电路,供电单元一通过串联负载给器件漏极供电,电流监测单元测量通过器件的电流,驱动单元为器件提供所需的调制驱动;供电单元二通过恒流源给二极管D1,D2,D3,D4供电,电压监测单元用于测量C点电压,差分电压监测单元用于监测二极管D2和D3的前向压降,并公开动态导通阻抗提取方法。本发明采用双二极管串联隔离测量法测量导通阻抗,电路结构简单,监测电压始终为低压;采用双二极管串联隔离,使二极管前向导通电压可在低压范围内实时测量,提高了测量精度;采用特定的极小结电容二极管,提高了高频响应,实现了高频测量。

著录项

  • 公开/公告号CN108718150B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京南大光电工程研究院有限公司;

    申请/专利号CN201810524516.4

  • 发明设计人 雷建明;陈敦军;谢自力;

    申请日2018-05-28

  • 分类号H02M1/08(20060101);

  • 代理机构32332 江苏斐多律师事务所;

  • 代理人张佳妮

  • 地址 210046 江苏省南京市经济技术开发区恒发路28号04幢

  • 入库时间 2022-08-23 10:38:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    授权

    授权

  • 2018-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H02M 1/08 申请日:20180528

    实质审查的生效

  • 2018-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H02M 1/08 申请日:20180528

    实质审查的生效

  • 2018-10-30

    公开

    公开

  • 2018-10-30

    公开

    公开

  • 2018-10-30

    公开

    公开

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