首页> 中国专利> 显微镜载玻片曲面高度值的测算方法以及一种显微镜

显微镜载玻片曲面高度值的测算方法以及一种显微镜

摘要

本发明涉及显微成像技术领域,具体涉及测算载玻片的高度值,并通过高度值推算载玻片在显微镜体系内的位置以获得在高倍放大时能够连续扫描获得清晰图像的方法。本发明,通过一个标准载玻片作为模板获得另一个待测载玻片上所有标准测量点的高度值。该测算方法是通过位置坐标与高度值的函数方程组的换算关系获得的。本发明能够准确的测算出任一张载玻片的曲面高度,并将这种测量曲面高度的方法应用到自动扫描显微镜里面,实现对载玻片上样本物体的显微快速图像扫描。尤其是在高倍放大的镜头下,越是能够体现出本发明在成像清晰度高,以及扫描速度快,效率高,自动化的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN106556350B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 殷跃锋;

    申请/专利号CN201611077830.X

  • 发明设计人 殷跃锋;

    申请日2016-11-30

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 215000 江苏省苏州市工业园区香樟公寓9幢1301室

  • 入库时间 2022-08-23 10:38:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    授权

    授权

  • 2017-11-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-11-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-04-05

    公开

    公开

  • 2017-04-05

    公开

    公开

  • 2017-04-05

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号