首页> 中国专利> 包括有均匀分布的硅纳米点的栅的存储器的制造方法

包括有均匀分布的硅纳米点的栅的存储器的制造方法

摘要

本发明提供了一种制造存储器的方法,该存储器包括具有均匀分布的硅纳米点的栅。该方法包括:在衬底上形成栅,该栅具有绝缘薄膜,还具有在该绝缘薄膜中顺序叠放并且以预定距离彼此隔开的纳米点层和导电薄膜图案;在衬底中形成源区和漏区;以及分别在源区和漏区形成第一和第二金属层。

著录项

  • 公开/公告号CN100343979C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200510071668.6

  • 发明设计人 柳寅儆;郑守桓;柳元壹;

    申请日2005-03-04

  • 分类号H01L21/8239(20060101);H01L21/28(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人魏晓刚;李晓舒

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/8239 授权公告日:20071017 终止日期:20150304 申请日:20050304

    专利权的终止

  • 2007-10-17

    授权

    授权

  • 2006-01-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-11-30

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号