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一种基于相位反馈的超声AFM闭环纳米加工装置和方法

摘要

本发明涉及一种基于相位反馈的超声AFM闭环纳米加工装置,包括:AFM系统以及与其连接的超声辅助系统、相位反馈系统,所述超声辅助系统与相位反馈系统连接;方法包括:人机交互界面根据设定的加工深度确定相位差设定值,相位差设定值与相位差检测反馈值输入至PID控制器,PID控制器输出控制信号、光电传感器输出的悬臂梁偏转信号输入至电压加法器,相加后输出至AFM控制器控制探针的加工的深度。本发明通过实时监测悬臂梁的相位值,最终能够实现加工深度信息的实时检测。

著录项

  • 公开/公告号CN107188116B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院沈阳自动化研究所;

    申请/专利号CN201610143203.5

  • 发明设计人 刘连庆;施佳林;于鹏;李广勇;

    申请日2016-03-14

  • 分类号

  • 代理机构沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人许宗富

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市东陵区南塔街114号

  • 入库时间 2022-08-23 10:27:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-22

    授权

    授权

  • 2017-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B3/00 申请日:20160314

    实质审查的生效

  • 2017-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B 3/00 申请日:20160314

    实质审查的生效

  • 2017-09-22

    公开

    公开

  • 2017-09-22

    公开

    公开

  • 2017-09-22

    公开

    公开

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